设备 OEE 在线计算器
输入生产数据，一键计算 OEE（设备综合效率）及可用率、性能率、良率，定位产能损失瓶颈
OEE = 可用率 (A) × 性能率 (P) × 良率 (Q)
Availability × Performance × Quality
输入生产数据
一个班次或一天的计划运行时间
设备故障 + 换型 + 等料 + 计划外维护
设备设计的最快单片处理时间
该时段内的总加工片数
合格品数量
OEE 分析结果
OEE 综合效率
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可用率 A
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性能率 P
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良率 Q
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产能损失分析
行业对标
| 等级 | OEE 范围 | 说明 | |
|---|---|---|---|
| 世界级 | ≥ 85% | 行业顶尖水平，持续改善 | |
| 优秀 | 75% ~ 85% | 竞争力强，仍有提升空间 | |
| 一般 | 60% ~ 75% | 行业平均水平，需要改善 | |
| 较差 | < 60% | 存在严重浪费，需立即改善 |
改善建议
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计算说明：
OEE = 可用率 × 性能率 × 良率。
可用率 = (计划时间 - 停机时间) / 计划时间；
性能率 = (总产出 × 理想节拍) / 实际运行时间；
良率 = 良品数 / 总产出。
世界级 OEE 基准为 85%（可用率 90% × 性能率 95% × 良率 99.9%）。
半导体行业因工艺复杂性，实际 OEE 通常在 60%~80% 之间。
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